» Программы для разработки, тестирования, оптических систем

Цитата:

 
Получил в четверг с
http://www.ozon.ru/context/detail/id/21277442/
пролистал.

Это один из учебников ИТМО? Судя по авторам и тиражу....

Цитата:

А можно на файлообменник выложить?

http://ifolder.ru/25232351 Мануал....

Цитата:

пролистал

И каковы ощущения? Что-то новое есть?

Цитата:

Это один из учебников ИТМО? Судя по авторам и тиражу....

В понедельник посмотрю.

Цитата:

И каковы ощущения? Что-то новое есть?

На первый взгляд нет, хотя может это результат беглого просмотра.

Цитата:

paparazzo

, ОГРОМНОЕ человеческое!!!!!

Цитата:

Цитата:
пролистал

И каковы ощущения? Что-то новое есть?

Присоединюсь к вопросу - что там в содержании? может, можно страничку с содержанием хотя бы посмотреть - решить для себя, стоит ли заказывать на ozon...

paparazzo
Огромное спасибо!
То, что нужно!

Кто-нибудь моделировал в Земаксе просветляющие покрытия?
А то у меня никакой разницы: что с покрытием, что без.
Что бы это значило?

dimakrasnyi
Включи "Polarisation Ray Tracing"

Интересненько!
Покупаю......

dimakrasnyi
если это непоследовательный режим, при трассировки необходимо поставить галки Use polarization и Split rays

Оглавление интересное! Подождем скана...

Цитата:

Split rays

необязательно

Цитата:

 

Спасибо за оглавление!

Цитата:

если это непоследовательный режим, при трассировки необходимо поставить галки Use polarization и Split rays

Режим последовательный

Цитата:

Включи "Polarisation Ray Tracing"

Спасибо, это уже кое-что.
Просто предполагалось, что после нанесения покрытия, изменятся коэффициенты Цернике и MFT, а они такие же Так должно быть или я неправильно наношу покрытия?

DSoln

Цитата:

Спасибо за оглавление!

Извиняюсь, сил на полный скан пока не нашлось.
:-\

Цитата:

[/q]

Цитата:

[q]Уважаемые коллеги,
 
В период с 7 по 10 сентября 2015 г. в г. Йена, Германия в рамках Симпозиума SPIE “Разработка оптических систем”  
будет проходить очередная конференция “Оптическое производство, тестирование и метрология V “
Абстракты на конференцию принимаются до 23 февраля 2015 г. (возможна небольшая задержка до 1 марта 2015г.)
Страница конференции в интернете:
http://spie.org/EOD/conferencedetails/optical-fabrication-testing-metrology
 
Если у Вас есть предложения выступить на конференции в качестве приглашенного докладчика  
прошу направить их в мой адрес в срок до 20 февраля 2015г.
Прошу разослать информацию о конференции вашим коллегам.
 
Член программного комитета конференции
Александр Яскович, ИКИ РАН (yasa@iki.rssi.ru)

ging
если необходимо рассмотреть еще и отраженную часть (например на делителе), без Split rays не получится. Если только на пропускание, да, можно без него.

Цитата:

Спасибо, это уже кое-что.  
Просто предполагалось, что после нанесения покрытия, изменятся коэффициенты Цернике и MFT, а они такие же

ФРТ можно в непоследовательном режиме посмотреть....
Взяв преобразование Фурье от него, получим MTF.

Думаю должно работать и для Split rays.

Добавлено:
upd
такой метод не работает, всего-лишь пик опускается у ФРТ....
а профиль такой же

Вопрос по NSC Zemax:
Возможно ли какое-нибудь угловое фильтрование перед детектором кроме как использование фильтров на ZRD? В ZRD очень мало лучей... В Speos, к примеру, ставится поверхность-фильтр, очень удобно...

Цитата:

Вопрос по NSC Zemax: Возможно ли какое-нибудь угловое фильтрование перед детектором кроме как использование фильтров на ZRD? В ZRD очень мало лучей... В Speos, к примеру, ставится поверхность-фильтр, очень удобно...

Что нужно сделать? Отсечь лучи, приходящие под определенным углом? В этом случае можно поставить поверхность с пользовательским покрытием.

Цитата:

Просто предполагалось, что после нанесения покрытия, изменятся коэффициенты Цернике и MFT, а они такие же

А вот это вопрос... С расчетной точки зрения (т.е. исходя из алгоритма трассировки лучей) не вижу никакой причины, почему бы могла измениться PSF/MTF. С точки зрения физики могу, конечно, представить, что преломление на границе "воздух-1.33 (эффективный)" вносит меньше аберраций, чем преломление на границе "воздух-1.52" (ну или какое там стекло). Но тогда бы я очень хотел увидеть оценку той ошибки, которая вносится таким упрощением...

Цитата:

Что нужно сделать? Отсечь лучи, приходящие под определенным углом? В этом случае можно поставить поверхность с пользовательским покрытием.

Спасибо! Попробую. Не делал подобного. Можно указать поглощение для углов выше заданного? Или только отражение? Боюсь что отраженные переотразятся.

Добавлено:
С Table жить можно:

TABLE angular_control_30degrees
ANGL 30
WAVE 0.2 0 0 1 1
WAVE 1.0 0 0 1 1
ANGL 30.01
WAVE 0.2 0 0 0 0
WAVE 1.0 0 0 0 0

Единственное серьезное неудобство - отдельный dat-файл, но переживем...

Цитата:

А вот это вопрос... С расчетной точки зрения (т.е. исходя из алгоритма трассировки лучей) не вижу никакой причины, почему бы могла измениться PSF/MTF. С точки зрения физики могу, конечно, представить, что преломление на границе "воздух-1.33 (эффективный)" вносит меньше аберраций, чем преломление на границе "воздух-1.52" (ну или какое там стекло). Но тогда бы я очень хотел увидеть оценку той ошибки, которая вносится таким упрощением...

ИМХО изменится профиль пучков света, участвующих в формировании изображения, из-за разного процента отражения на поверхностях, аподизация произойдёт.
Но её влияние будет очень ничтожно на результирующую ФРТ/ЧКХ.
Тем более при просветлении этот процент еще меньше.
Далее отраженный свет может вызвать паразитные изображения, но для изображающей системы это некритично, т.к. уровень освещенности бликов довольно низкий обычно.

Добавлено:
Под изображающей сиcтемой имел ввиду систему с малым уровнем освещенностей. Ибо в системах с мощным световым потоком, блики иногда фокусируются на линзах и линза лопается.

Люди, подскажите как это объяснить:


Оптика сферическая никакого "криминала". Правда есть призмы АР-90. Но наличие излома оси (при моделировании) только лишь сдвигает ЭТО по полю.

Цитата:

А вот это вопрос... С расчетной точки зрения (т.е. исходя из алгоритма трассировки лучей) не вижу никакой причины, почему бы могла измениться PSF/MTF. С точки зрения физики могу, конечно, представить, что преломление на границе "воздух-1.33 (эффективный)" вносит меньше аберраций, чем преломление на границе "воздух-1.52" (ну или какое там стекло). Но тогда бы я очень хотел увидеть оценку той ошибки, которая вносится таким упрощением...

Цитата:

ИМХО изменится профиль пучков света, участвующих в формировании изображения, из-за разного процента отражения на поверхностях, аподизация произойдёт.
Но её влияние будет очень ничтожно на результирующую ФРТ/ЧКХ.
Тем более при просветлении этот процент еще меньше.
Далее отраженный свет может вызвать паразитные изображения, но для изображающей системы это некритично, т.к. уровень освещенности бликов довольно низкий обычно.

Ясно, спасибо

Наглючили что-нибудь с апертурами на поверхностях или что-то подобное...

Aspirant_Levin
Прицеливание включено?

Коллеги, прошу, откликнитесь кто-нибудь, кто занимался (занимается) оптическими системами микроскопов. Нужна любая информация по системам юстировки Галилея.
Задолбал заказчик, уже 2 человека с форума проверили рассчёт, исключив мою ошибку,
расчётчик заказчика тоже проверял.
Ну не выходит его ваза! Винит меня, я уже от денех отказался.
Но докопаться хочется всё-таки.