» Программы для разработки, тестирования, оптических систем

Нет, ставил в отражатель. Правда отражатель был рассчитан для другого светодиода, пришлось основание подрезать немного Проверял восприятие на собственном опыте в "абсолютно темной комнате" - на складе без окон Затем отправили в шахту тестовый фонарик с установленным ХР-Е, шахтеры сказали

Цитата:

Правда отражатель был рассчитан для другого светодиода

Вот!
Я совал XPG в отражатель от XRE - разница существенная, если засунуть его в отражатель для XPG.

Все же XPG дает 400 люмен, в то время как XPE - 300 люмен и размажутся они оптикой одинаково, как и для XPE, в точку ведь не нужно собирать. Но 100 люмен ведь!

Хотя если шахтеры одобрили, значит им нормально

Шахтерский фонарик ограничен запасом мощности батареи, в нашем изделии на светодиод подается ток 250 мА. На таком токе почти все светодиоды равны, и здесь уже идет разговор больше об эффективности оптической системы. Вот тут то и получается результат, описанный выше

П.С. Смоделировал отражатель - по одной оси чистая парабола, а по другой оси две параболы, у которых главная ось отклонена на небольшой угол (порядка 1.18 градуса). Затем в солиде сшил все это дело с образующими снизу и сверху в виде эллипса... В итоге, в центре эллиптическое пятно, но с "ушами" на каждом из углов Затем смоделировал ПВО-линзу по той же самой схеме (единственное отличие - пришлось угол в 3 раза меньше сделать, чтобы получилось некоторое подобие эллипса), получилось по виду нечто, очень похожее на знак бесконечности попробую доработать, может даже толк какой-никакой выйдет

Цитата:

В итоге, в центре эллиптическое пятно, но с "ушами" на каждом из углов

А какой размер пятна требуется, и на каком расстоянии?

Ограничение угла расходимости пучка по ТЗ - не более 4-х градусов, я уложился в 3... размер пятна сложно определить из-за небольшой размытости краев, но примерно 4см радиус на 1 метре - это для круглого пятнышка... следовательно, необходимо сделать пятно 4см*12см

Вышла новая версия Земакса. Добавлены интересные возможности - смотрите на сайте... Кстати, есть подвижки по моделированию фосфоров в светодиодах. Но, на мой взгляд, как-то оно уж очень ограничено... Кто что думает?

Всем привет! Снова я
возник такой вопрос - какая точность формы поверхности должна устанавливаться для асферической поверхности? В ГОСТе указывается, что нужно исходить из допустимого искажения изображения. На сайте кафедры ПиКО СПбГУ ИТМО нашел электронное пособие , в котором указывается, что форма поверхности должна отличаться не более, чем на длину волны.

Определить искажения изображения сложно, так как деталь довольно специфическая (TIR-линза для светодиода) - в плоскости X-Z ось параболы наклонена к главной оси на некоторый угол, деталь получается вращением этой плоскости вокруг оси Z. В итоге деталь можно отнести как к призме (TIR), так и к линзе (преломление).
П.С. Материал - ПММА.

А вам нужно получить изображение кристалла диода или световое пятно?
По моему опыту отклонения 0,1% для изображающей оптики и до 1% для осветителей.
Правда, с асферикой не сталкивался пока, но, ИМХО, разницы нет ни по отклонению формы, ни по иррегуларити.

yevogre, нужно получить световое пятно в пределе конуса 4 градуса.
у меня минимальный размер параболы порядка 9мм, следовательно, 0.1%*9мм=9мкм, а если по длине волны, то точность должна быть 0.5мкм, т.е. разница почти в 20 раз
Прессформу будут делать на ЧПУ, там точность единицы микрона.
Меня одно смущает - поверхность параболы отражающая, следовательно при отклонении 9мкм прирост ошибки при отражении составит порядка 27-30 мкм... Попробую параболу заменить сплайном с отклонением порядка 9 мкм и посмотреть что будет

Цитата:

Прессформу будут делать на ЧПУ, там точность единицы микрона.

Это точность станка, а не детали.
На точность детали (в данном случае - прессформы) влияет куча параметров, таких как состав и состояние
металла, радиус вершины резца, её форма и прочее (очень много, вплоть до температуры и влажности).
Я привёл данные по отклонению поверхности из опыта заказа стекла, не пластика.
При печатке (прессовке) будет усадка и уводка.
Так что говорить об 1% вполне логично. Какова будет форма пятна - это ведь не только отклонение формы,
это регулярность (форма колец на сфере - яма, бугор и пр.)
Вам надобно говорить с технологами - что они МОГУТ и от этого плясать по допускам.
Тем более, ИМХО, с TIR, да ещё и асферической.

Цитата:

Вышла новая версия Земакса. Добавлены интересные возможности - смотрите на сайте... Кстати, есть подвижки по моделированию фосфоров в светодиодах. Но, на мой взгляд, как-то оно уж очень ограничено... Кто что думает?

Возможности, добавили график спектра (поток от длины волны). Правда ограничение в 100 длин волн в системе так и осталось.... Надо долбать поддержку, чтобы увеличили.
Круговой массив - хорошо.
Моделирование фосфоров - без изменения длины волны (Wavelenght shift не в счет), так что сомнительное улучшение.


Цитата:

Меня одно смущает - поверхность параболы отражающая, следовательно при отклонении 9мкм прирост ошибки при отражении составит порядка 27-30 мкм... Попробую параболу заменить сплайном с отклонением порядка 9 мкм и посмотреть что будет

Допуска можно моделировать в непоследовательном режиме в новых версиях Земакс.

Помогите, плз., разобраться.
Как я понимаю, зная ФРТ для оптической системы можно с помощью преобразования Фурье получить ВФ (волновой фронт) на входной апертуре и наоборот.
Вопрос как связана величина элемента матрицы ФРТ и ее полный размер с элементом ВФ и его полным размером?
Имеет ли смысл брать элемент ФРТ меньше чем (длина волны)/(диаметр апертуры)?
Если мы хотим получить разрешение ВФ на апертуре ~ 1/1000 от размера апертуры то каким размером и разрешением ФРТ (в единицах (длина волны)/(диаметр апертуры) надо задаться чтобы с одной стороны не потерять информацию, а с другой не делать лишнего?

Подскажите пож-та

сегодня смотрел фильм про фотографию
там сказано было
ДЛЯ ТОГО, ЧТОБЫ СДЕЛАТЬ КАДР С МЕНЬШЕЙ ГЛУБИНОЙ РЕЗКОСТИ НАДО ВЫНУТЬ ШИРОКОУГОЛЬНЫЙ ОБЪЕКТИВ И ЗАМЕНИТЬ ЕГО НА ДЛИННОФОКУСНЫЙ

скажите, при чем тут вообще фокус???

разве глубина резкости от фокуса зависит???
она, насколько я помню от относительного отверстия зависит...

или я не прав?

Цитата:

она, насколько я помню от относительного отверстия зависит...

Надо вспомнить, что такое относительное отверстие....

Цитата:

она, насколько я помню от относительного отверстия зависит...

Так точно, заявляю с большой уверенностью.

Цитата:

ДЛЯ ТОГО, ЧТОБЫ СДЕЛАТЬ КАДР С МЕНЬШЕЙ ГЛУБИНОЙ РЕЗКОСТИ НАДО ВЫНУТЬ ШИРОКОУГОЛЬНЫЙ ОБЪЕКТИВ И ЗАМЕНИТЬ ЕГО НА ДЛИННОФОКУСНЫЙ

скажите, при чем тут вообще фокус???

Зависит от соотношения переднего и заднего отрезка, при смене объектива на длиннофокусный придется для съемки портрета сделать больше(длиннее) передний отрезок, а соответственно задний будет короче, т.е. вырастет апертурный угол в пространстве изображений, изменятся перспективные искажения и пр.
Для бесконечно удаленного объекта все определяется относительным отверстием, ИМХО.

Цитата:

ДЛЯ ТОГО, ЧТОБЫ СДЕЛАТЬ КАДР С МЕНЬШЕЙ ГЛУБИНОЙ РЕЗКОСТИ НАДО ВЫНУТЬ ШИРОКОУГОЛЬНЫЙ ОБЪЕКТИВ И ЗАМЕНИТЬ ЕГО НА ДЛИННОФОКУСНЫЙ

Наоборот, у широкоугольного глубина резкости меньше, а у длиннофокусного - больше.
При равных диаметрах входного зрачка.

Глубина резкости в пространстве изображений ( у сенсора ) зависит от относительного отверстия ( числовой апертуры ), размера пикселя ( зернистости пленки ) и допустимого снижения контраста.
При всех равных условиях продольная допустимая дефокусировка у широкоугольного объектива и у длинофокусного ( телевика ) будет одинаковой.
В пространстве объектов же глубина резко изображаемого поля будет существенно различатся: обратно пропорционально квадрату фокусного расстояния ( см. формулу Ньютона ). И, поскольку широкоукольный объектив имеет меньшее фокусное расстояние, то он обладает большей глубиной резкости в пространстве
объектов

Может кто подскажет по каким критериям оченивать качество объектива для его работы на ПЗС-матрицу? Я оцениваю по кривизне, астигматизму, дисторсии и RMS vs Field так же иногда FFT MFT плюс иногда очениваю Encirclid Energy Diffraction. До этого считал оптику для работы с глазом там все понятно на что смотреть а здесь как-то прям не очень!!!

А как оценивали работу с глазом?

yevogre
По кривезне и пятну в афокальной системе ну астигматизму еще

BernikG
FFT MTF, RMS vs Field, Diffraction Encircled Energy , дисторсия, освещенность по полю (первые три параметра связаны, можно выбирать что ближе для своей задачи).

A_P_V
А освещеночть где смотреть? И зачем? Я смотрю на иметаторе изображения! и трасировки по пиксилям! Как вообще можно оченить качество таких объективов?

освещенность по полю (Relative Illumination) - одна из характеристик, из которых складывается качество объектива.


Цитата:

Как вообще можно оченить качество таких объективов?

не совсем вопрос понятен. Чисто технически - проблем не вижу - разработчики программ предусмотрели инструменты.

Цитата:

Как вообще можно оченить качество таких объективов?

ИМХО
Оценка качества объективов проводится по MTF ибо главный параметр - разрешение.
Также можно оценить по Штрелю, но это уже потом.
Все перечисленные вами параметры (
Цитата:

кривизне, астигматизму, дисторсии и RMS vs Field

влияют в конечном счёте на ЧКХ, но являются параметрами, определяющими путь оптимизации.

В одном руководстве вводные параметры такие:

Sharpness - MTF through focus range
Low freq, 17lp/mm >90% central; >85% outer
High freq, 51lp/mm >30% ............>25%

Geometric distortion <4%

Это как-бы нижний предел для проектирования (самый, учебный)

В паспортах продвинутых матриц указывают MTF прямо:

MTF = >40% Nyquist (к примеру), частота Найквиста = удвоенный размер пикселя.

yevogre
Я правельно понимаю что ЧКХ является основным показаиелем качества изображения объектива? Что с пятном расеяния? Если оно больше пикселя? Я понимаю что объектив не может обеспечить качество изображения превосходящее дифракционный предел! Но все же если размер пикселя 1.4 мкм а пятно скажем по краю поля 1 мкм при дифракционном пределе 4 мкм то объектив все равно обеспечит качество изображения раное 4 мкм верно я расуждаю? А следоватеьно нет смысла сильно заходить за диф предел я правельно понимаю?

Ориентироваться можно на такие цифры, но лучше, на мой взгляд, что бы качество задавал заказчик, исходя из применения систем и последующей цифровой обработки. Рассматривая систему в целом, иногда возможно пересмотреть характеристик.

Заказчик я сам и объектив для внутренего потребления, следовательно качество задаю то же я! Задано оно таким образом: Что бы обеспечивал качество изображения удовлетворительное для совместного применения с ПЗС-матрице размер пикселя которой не менее 1.4 мкм, но не более 3 мкм! Если я выложу картинки с характеристиками сможете оченить качество зображения для подобной матрицы?

Цитата:

А следоватеьно нет смысла сильно заходить за диф предел я правельно понимаю?

Интересно!
А у вас получалось заходить ЗА дифф предел????
И потом, я уже упомянул частоту Найквиста - почитайте.
Коротко:
Частота Найквиста есть 1/(удвоенный размер пикселя).
На этой пространственной частоте нужно иметь контраст (по ЧКХ) не хуже указаного производителем матрицы.
Обычно не ниже 40% (ИМХО).
В этом случае оптика вытягивает то, что матрица в состоянии показать.

Размер пикселя 1.4 или 3мкм - это РЕАЛЬНЫЙ размер по-моему у цветных матриц.
В формировании точки участвуют 4 пикселя (квадратик 6 х 6 микрон) - это будет размер информационного пикселя.
А частота Найквиста будет 1/(2*6мкм) = 83lp/mm.
На этой частоте ваша оптика должна давать 40% контраста - проверяете по ЧКХ

yevogre
Да вы не поверите оптика может позволить качество выше дифф предела, вот только в реальной жизне качество ну ни как не превзайдет этого предела! За помощь огромное спасибо! Еще вопрос по краю поля в тангенсальной плоскости 0,23 а в сагетальной 0,5 как это оченить? Я понимаю что обе плоскости должны лежать в пределе 0,4?